- Stok: Stokta Yok
- Marka: PCE INSTRUMENTS
- Model: SL.PCE.GM75.24012305
Ø4,5 mm'lik ölçüm yüzeyiyle PCE GM 75, küçük yüzeylerde ve kavisli ya da oluklu alanlarda parlaklık ölçmek için tasarlanmış, tek tuşla kullanılan bir parlaklık ölçerdir. Ulaşılması zor noktalarda küçük değişiklikler ya da kirlenmeler bile sonucu etkileyebildiğinden, dar sensör açıklığı ölçümün doğrudan yüzeyde yapılmasını sağlar. Aynı renkte ama farklı parlaklıktaki iki numune görsel olarak aynı görünmez; bu yüzden ölçülen yüzeylerde tekrarlanabilirlik önemlidir. Ölçüm sonucu düzlük, yapı, yarıçap ya da hafif gölge gibi faktörlerdeki küçük değişiklikleri yansıtmalıdır. Maksimum hassasiyet %1'dir. 60° geometrili cihaz, 0…99,9 GU aralığında 0,1 GU, 100…1000 GU aralığında 1 GU çözünürlük sunar.
Cihaz 1245 ölçümü zaman damgasıyla belleğine kaydeder. Mikro-USB ile bilgisayara bağlandığında veriler .txt dosyası olarak okunur; ek sürücü ya da yazılım gerekmez. Güç 2 adet 1,5 V AAA pilden gelir, çalışma sıcaklığı 0…40 °C'dir. Boyutu 115x65x25 mm, ağırlığı 100 g'dır. Dayandığı standartlar GB9754-88, GB9966.5, ISO2813 ve JJG696-2002'dir. Teslimatta kalibrasyon standardı, mikro-USB kablosu, temizlik bezi, 2 adet AAA pil ve kullanım kılavuzu bulunur.
Ürün Özellikleri:
- Ø4,5 mm ölçüm yüzeyiyle küçük alanlarda ölçüm
- Kavisli ve oluklu yüzeylere uygun tek tuşlu kullanım
- 0…99,9 GU ve 100…1000 GU ölçüm aralıkları
- Zaman damgalı 1245 ölçüm, .txt olarak okuma
- Sürücü ya da yazılım gerektirmeyen mikro-USB bağlantısı
Teknik Özellikler:
- Ürün Kodu: SL.PCE.GM75.24012305
- Marka: PCE
- Model: GM 75
- Ölçüm geometrisi: 60°
- Ölçüm aralığı ve çözünürlük: 0…99,9 GU: 0,1 GU; 100…1000 GU: 1 GU
- Ölçüm yüzeyi: Ø4,5 mm
- Veri depolama: 1245 ölçüm değeri, mikro-USB ile .txt
- Güç kaynağı: 2 x 1,5 V AAA pil
- Çevresel koşullar: 0…40 °C
- Boyut ve ağırlık: 115x65x25 mm, 100 g
- Standartlar: GB9754-88, GB9966.5, ISO2813, JJG696-2002
Temel Kullanım Alanları:
- Küçük parçaların yüzey parlaklığının ölçülmesi
- Kavisli ve oluklu yüzeylerde parlaklık kontrolü
- Ulaşılması zor noktalardaki yüzey değişikliklerinin izlenmesi
- Aynı renkli ancak farklı parlaklıktaki numunelerin karşılaştırılması
- Kaydedilen değerlerin sonradan bilgisayarda değerlendirilmesi
